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TMS参与制定的相关标准、专利及发表的期刊论文

期刊论文：《辉光放电质谱法测定高纯材料中痕量硫杂质》

YS/T 1493-2021 《高纯铂化学分析方法杂质元素含量的测定辉光放电质谱法》

YS/T 1505-2021 《高纯钌化学分析方法杂质元素含量的测定辉光放电质谱法》

YS/T 1495-2021 《高纯铑化学分析方法杂质元素含量的测定辉光放电质谱法》

YS/T 1504-2021 《高纯钯化学分析方法杂质元素含量的测定辉光放电质谱法》

●行为公正

YS/T 1506-2021 《高纯铱化学分析方法杂质元素含量的测定辉光放电质谱法》

专利：一种用于辉光放电质谱分析的样品载具

期刊论文：《高纯净材料的发展及纯度分析方法》

YS/T 1600-2023 《碳化硅单晶中痕量杂质元素含量的测定辉光放电质谱法》

YS/T 38.3-2023 《高纯镓化学分析方法第3部分：痕量杂质元素含量的测定辉光放电质谱法》

GB/T 43968-2024《高效液相色谱-原子荧光光谱仪联用分析方法通则》

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